صورة غلاف الرسالة/الاطروحة غير متوفرة



العنوان باللغة العربية
منصة الرسائل والاطاريح: نهج الاختبار الذاتي الداخلي لمجموعة ذاكرة الوصول العشوائي الثابتة - جامعة بابل
العنوان باللغة الانكليزية
Built -In Self-Test Approaches for a Static Random Access Memory Array
اسم الطالب باللغتين
فنار عباس عبدالله حسن - Fanar Abbas Abdullah Hassan
اسم المشرف باللغتين
أ.د. قيس كريم عمران--Qais Kareem Omaran
الخلاصة
أصبح الاختبار الذاتي المدمج ( )BISTعاملاً مه ًما في عمليات التصنيع الحالية للذاكرة. ويستخدم في زيادة الموثوقية وتحسين إنتاجية الذاكرة. تعتمد فعالية أي خوارزمية اختبار على تغطية الخطأ وسرعة اكتشاف الخطأ. في هذا الاطروحة ، تم اقتراح طريقتين BISTلذاكرة الوصول العشوائي الثابتة ( .)SRAMالنهج الأول هو خوارزمية Fast Marchبينما الأسلوب الثاني هو خوارزمية .March-C في النهج الأول ، تم تطوير خوارزمية الصفر واحد التقليدية لخوارزمية Fast Marchباستخدام طريقة توجيه الكلمات التي تم فيها استخدام خطوات مختلفة لنمط الاختبار. في النهج الثاني ، تم تطوير خوارزمية March- Cالتقليدية لخوارزمية آلة الحالة المحدودة ( )FSMحيث أصبحت تعتمد على توجيه تقنية الكلمات باستخدام نمط اختبار مناسب. تم تطبيق النهجين على حجمين من الذاكرة ()8 × 16 بت لكلمة و ( )8 × 32كلمة بت حيث تم افتراض أربعة أنواع من الأخطاء للتحقق من فعالية هذه الخوارزميات. الاخطاء هي خطأ العنوان ، عالق في الخطأ ، خطأ اقتران وخطأ في النقل. لقد أثبتت نتائج المحاكاة أن Fast Marchأسرع من خوارزمية March- Cثلاث مرات ( 16عملية مقابل 40عملية) ، لكنها لا تكشف سوى نوع واحد من الأخطاء (عالق عند الخطأ). تعد خوارزمية March -Cأبطأ من ، Fast Marchولكنها أكثر موثوقية ويمكنها اكتشاف معظم أخطاء الذاكرة. تم إجراء المحاكاة باستخدام برنامج QUARTZ 13.0حيث تم استخدام لغة VHDLفي هذا العمل
الفئة
العلوم الصرفة
الاختصاص باللغة العربية
الاختصاص باللغة الانكليزية
السنة الدراسية
2022
لغة الرسالة/الاطروحة
اللغة الانكليزية
الشهادة
ماجستير
رابط موقع (doi)
Open access
نعم